Tmetrics C20 顯微3D超景深相機

Tmetrics C20 顯微3D超景深相機

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主要特色

  • 使用便捷:高度集成與靈活適用,無需電腦,直接獲取並測量。
  • 用途廣泛:標準 C 接口,可搭配金相、體視、單筒等反射式顯微鏡。
  • 測量精確:10X 物鏡下,二維與三維測量精度可達 2 微米。
  • 操作簡單:所有功能均可透過滑鼠完成,大幅提升觀察與測量效率。

C20 相當於四種專業設備的四合一綜合體

  • 高速高動態彩色相機
  • 顯微影像分析軟體
  • 精密 Z 軸電動平台
  • 高性能主機

核心技術,打造強大聯動性能

  • 智能異構主機:可取代電腦執行大量計算,運行速度快,操作穩定。
  • 實時超景深與 3D 建模演算法:助力顯微系統實現立體三維觀察與測量分析。
  • 自動邊緣識別演算法:進一步提升顯微觀察與批量作業效率。

超景深觀察,實現全幅對焦

  • 傳統三維系統在進行景深拓展時,容易出現角度偏差、旋轉或焦面平坦不均等問題。C20 透過智能計算聯動技術,有效解決這些問題,確保獲得清晰、正確的全幅對焦影像。

實時寬動態 (WDR) 有效消除金屬表面強反光

  • 金屬表面的強反光可能導致細節丟失,影響判斷。C20 WDR 模式透過實時計算不同亮度的多張影像數據,生成曝光完美、細節清晰的影像,確保準確觀察與分析。

3D 模型創建,任何位置皆可輕鬆測量

  • 操作方式
    • 開啟軟件,依序點擊「拍攝 → 高級成像 → EDF & 3D」模組。
    • 選取影像的上下焦面後,點擊「3D」,C20 會自動完成 3D 模型創建。
    • 支援 實景模式 與 偽彩模式,可 360 度旋轉觀察。
  • 3D 測量功能
    • 內建多種 3D 測量工具,可測量 3D 模型的任意位置,並即時記錄與儲存數據。
    • 在 10X 物鏡 下,Z 軸測量精度可達 2 微米,重複精度可達 1 微米。
    • 搭配更高倍率的物鏡,可獲取更高精度的尺寸信息,滿足顯微 3D 測量需求。

自動 2D 測量,消除人為誤差,提高批量作業效率

  • 自動判斷合格品與不合格品:C20 可根據設定的標準差範圍,自動判定樣本的 OK/NG 結果,提升品質檢測效率。
  • 一次輸出所有測量數據:針對非標準件,C20 可透過設定相似度容差,一次輸出所有樣本的測量數據,提高批量測量效率。
  • 自動創建測試報告,數據可導出:C20 可儲存影像、影片數據,並自動生成測試報告,包含二維與三維測量數據。測試結束即完成整個工作流程,操作簡單高效!

應用範疇

  • 材料斷面分析、表面痕跡檢測、生物學觀察、零部件測量。

產品規格

感測器Sony 1/2″ CMOS 彩色
像元尺寸3.75μm × 3.75μm
快門模式電子卷簾曝光
掃描方式逐行掃描
幀率60fps (Normal) / 30fps (WDR)
增益自動 / 手動
曝光時間自動:0.1ms – 16.6ms,手動:0.0001s – 1s
白平衡自動 / 手動 / 區域

產品型錄

Tucsen Tmetrics C20 3D Super EDF Microscope Camera
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